DPLSM
Polarizációs mikroszkóp - kettőstörés gyors és nagy pontosságú meghatározása.
Méréstechnológia probléma. A kettőstörés ill. az annak következtében fellépő fázistolás mérésére makroszkópos mintákon számos eljárás született. A kettőstörés jelenléte mikroszkópikus mintákon „hagyományos” polarizációs mikroszkópokban lehetséges. A modernebb lézersugárpásztázó mikroszkópokra (LSMkre) is több eljárás ismert. A kereskedelmi forgalomban kapható berendezések lényegében a polarizációs mikroszkópokban alkalmazott leképezési eljárást, keresztezett polárszűrőket, használnak. Ily módon azonban a kettőstörésről csak kvalitatív adatok kaphatók, és ez az eljárás nem használja ki az LSMk legfontosabb előnyös tulajdonságát, a képpontonkénti digitális adatrögzítést.
Megoldás kvadráns detektorral. A kettőstörés mikroszkópos meghatározásának új módszere, melynek során egy nyalábtágító beiktatásával, az áteresztett fény mérésére szolgáló detektor lecserélésével többcsatornás (kvadráns) detektorral, amelyet különböző passzív polarizációs elemekkel egészítünk ki; a kettőstörés irányát és nagyságát képpontonként számítógépes jelfeldolgozást követően határozhatjuk meg.
